Фемтосекундный лазер позволил послойно вскрывать обугленных сверчков прямо в вакуумной камере сканирующего электронного микроскопа: галвосканер снимал слои с шагом около 30 мкм, после чего SEM фиксировал открывшуюся структуру без переноса образца. Защитная алюминиевая заслонка перехватывала углеродную пыль, однако её загрязнённое покрытие накапливало заряд и временно возмущало электронный тракт. →