Keysight + WIN: GaN MMIC design flow от кристалла до eval-board

Ошибка первого GaN MMIC tapeout часто возникает в переходе от площадок кристалла к корпусу, PCB и коаксиальному разъёму. Keysight и WIN Semiconductors включили эти уровни в общий маршрут на базе NP 120P GaN PDK и ADS/RF Circuit Simulation Professional. Публичный анонс пока не содержит корреляции электромагнитных расчётов с измерениями готовой сборки. →